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    濺射工藝時間對銅靶鋁靶材等不同靶材濺射速率的影響

    發(fā)布時間:2024-09-19 22:43:54 瀏覽次數(shù) :

    引言

    磁控濺射是一種常見的物理氣相沉積方法,具有沉積溫度低、沉積速度快、方便多個靶材進(jìn)行材料合成等優(yōu)點(diǎn),常用于金屬[1-3]、半導(dǎo)體[4-6]、絕緣體[7-9]等多種薄膜材料的制備。然而,在磁控濺射過程中,不同材料的濺射原子角分布差異很大[10],而且合金材料的一些參數(shù)不易設(shè)定,因此采用晶振片監(jiān)測沉積薄膜厚度有很大的局限性。在實(shí)際使用中,通常選擇控制濺射工藝時間來控制所制備沉積薄膜厚度。具體做法 是:在一小段時間內(nèi)濺射沉積某種薄膜,采用臺階儀測得厚度值并換算成沉積速率;當(dāng)制備具體厚度的該材 料薄膜時,只需簡單的比例運(yùn)算,就可得到沉積該厚度所需要的時間。

    在大量的實(shí)驗(yàn)記錄中發(fā)現(xiàn),通過控制濺射工藝時間來控制薄膜厚度的方法也存在一定的缺陷。當(dāng)濺射靶材為銅、鋁、鈦、鉻等金屬靶材時,沉積薄膜厚度和濺射工藝時間符合線性規(guī)律,采用濺射工藝時間控制沉積薄膜厚度比較科學(xué)。然而,當(dāng)靶材為氧化鋅、二氧化硅等導(dǎo)熱差的材料時,隨著濺射工藝時間的延長,濺射速率在一定時間后突然增加,出現(xiàn)“濺射失重”現(xiàn)象[10],讓沉積薄膜厚度變得不再可控。為此,根據(jù)所用設(shè)備的特點(diǎn)和靶材的實(shí)際導(dǎo)熱情況以及濺射時腔內(nèi)的溫度變化建立數(shù)學(xué)模型,采用Matlab軟件模擬靶材表面溫度隨濺射工藝時間的變化關(guān)系,闡明氧化鋅、二氧化硅靶材濺射速率突然增加的原因。

    1、實(shí)驗(yàn)部分

    磁控濺射鍍膜設(shè)備為explore-14多靶磁控濺射鍍膜系統(tǒng),共有3個直徑為3in(lin=2.54cm)的水冷靶槍,配備2個直流電源和1個射頻電源。水冷靶槍的常年溫度約為25℃。靶材中心距工件臺中心約為15cm,靶平面與工件臺平面的夾角約為45°。選用直徑3in的銅、鋁、氧化鋅和二氧化硅靶材,靶材純度均為99.999%,靶材厚度為5mm。襯底均為4in清洗干凈的單面拋光硅片。 所有待沉積薄膜的硅片在放置于工件臺之前,貼好十字形聚酰亞胺膠帶,方便后序臺階儀測量薄膜的厚度。

    1.1 銅靶材濺射

    在2個直流靶上分別安裝鉻和銅靶材。將腔內(nèi)抽真空到0.1MPa后,對2個靶材預(yù)濺射清洗2min。靶材濺射清洗具體工藝條件為:工作氣壓0.8Pa,濺射功率300W。然后,對已經(jīng)放置于工件臺上的硅片襯底濺射沉積薄膜。具體做法如下:先在硅片上濺射約10nm的鉻,增加銅和襯底的黏附性。濺射鉻的工藝條件為:濺射功率300W,工作氣壓0.8Pa,濺射工藝時間40s,工件臺旋轉(zhuǎn)速度10r/min。關(guān)閉鉻靶電源,打開銅靶電源對襯底進(jìn)行濺射。濺射銅的工藝條件為:濺射功率300W,工作氣壓0.8Pa,濺射工藝時間15min,工件臺旋轉(zhuǎn)速度10r/min。濺射完畢后,取出樣品并測量厚度。更換為全新的銅靶和待沉積的硅片樣品,重復(fù)上述制備銅膜的工藝步驟,將濺射工藝時間分別延長為30、45、60、75、90、105、120min。需要注意的是,為了實(shí)驗(yàn) 的嚴(yán)謹(jǐn)性,每制備一次新樣品都要更換全新的銅靶材。在所有濺射過程中,為了防止腔內(nèi)環(huán)境溫度升高, 腔壁吸附的水分子釋放出來影響濺射速率,采用液氮在分子泵前端的冷阱進(jìn)行制冷。制冷間隔為每30min 加注一次液氮。

    1.2 鋁靶材濺射

    鋁靶材濺射和銅靶材濺射的工藝步驟相同,濺射前對靶材預(yù)濺射清洗2min。鋁靶材的濺射功率為300W,工作氣壓為0.8Pa,工件臺旋轉(zhuǎn)速度為10r/min,首次濺射工藝時間為15min,后續(xù)濺射工藝時間分別為30、45、60、75、90、105、120min。2個直流靶上分別安裝鈦和鋁靶材,鈦?zhàn)鳛殇X膜的黏附層每次沉積約10nm。工藝條件為:濺射功率300W,工作氣壓0.8Pa,濺射工藝時間30s。每制備一次新樣品后都要更換全新的鋁靶材。

    1.3 氧化鋅靶材濺射

    氧化鋅靶材安裝在射頻電源靶槍上。腔內(nèi)抽真空到0.1MPa后,對氧化鋅靶材預(yù)濺射清洗2min。預(yù)濺射功率為300W,工作氣壓為0.8Pa。在沉積氧化鋅薄膜之前,用50W的負(fù)偏壓功率對襯底預(yù)清洗3min,增加薄膜和襯底的結(jié)合力。濺射氧化鋅靶材的工藝條件和濺射銅、鋁靶材的工藝條件相同。每制備一次新樣品都要更換全新的氧化鋅靶材。后續(xù)的系列實(shí)驗(yàn)將濺射工藝時間分別設(shè)定為30、45、60、75、90、105、120min,制備好樣品后測量厚度。

    1.4 二氧化硅靶材的濺射

    二氧化硅靶材的濺射工藝參數(shù)與步驟和氧化鋅靶材的完全相同,實(shí)驗(yàn)細(xì)節(jié)不再贅述。

    2、實(shí)驗(yàn)結(jié)果

    去掉硅片上的聚酰亞胺膠帶,采用KLA-TencorP7臺階儀多次測量硅片不同位置所制備樣品薄膜的厚度,求平均值。相同濺射功率、不同濺射工藝時間下沉積的銅、鋁、氧化鋅、二氧化硅薄膜具體厚度如表1和圖1所示。

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    3、分析與討論

    由實(shí)驗(yàn)測試結(jié)果可知,銅、鋁2種金屬的沉積薄膜厚度和濺射工藝時間幾乎呈線性變化。在濺射工藝時間40~80min區(qū)間內(nèi),銅膜的實(shí)際沉積厚度比理論值略有增加。造成這種結(jié)果的原因可能是:隨著銅靶材的消耗、刻蝕槽的加深,更多的磁場力線露出靶面,對電子的束縛能力更強(qiáng),電子與氬氣碰撞產(chǎn)生更多的氬離子,造成濺射產(chǎn)額增加,薄膜的沉積速率略快;當(dāng)濺射工藝時間超過90min,刻蝕槽的繼續(xù)加深導(dǎo)致“空心陰極效應(yīng)”現(xiàn)象的產(chǎn)生,加速銅膜沉積速率的降低[11]。在濺射工藝時間60~105min區(qū)間內(nèi)鋁薄膜沉積速率略增加,在105~120min區(qū)間內(nèi)沉積速率略下降,這是因?yàn)殇X靶的濺射速率比銅靶慢,變化趨勢也會相應(yīng)延遲。

    氧化鋅和二氧化硅薄膜實(shí)際沉積厚度在前期與理論值較吻合,當(dāng)濺射工藝時間繼續(xù)增加后,實(shí)際厚度逐漸比理論值偏大,甚至出現(xiàn)了“濺射失重”的現(xiàn)象。這可能是由靶材的導(dǎo)熱性能不好、靶材表面溫度過高所造成的。根據(jù)所用濺射鍍膜設(shè)備的具體特點(diǎn)和靶材的導(dǎo)熱情況嘗試建立數(shù)學(xué)模型。

    當(dāng)靶材的濺射功率為300W時,大約只有1%的入射離子能量轉(zhuǎn)移到逸出的濺射原子中[12]。剩下的能量一部分消耗在靶材的表層,轉(zhuǎn)化為晶格的熱振動,使靶材表面溫度升高;另一部分用于氬氣電離,釋放的熱量以熱輻射的形式對外傳熱。設(shè)靶材表面溫度為T,當(dāng)時間為t、冷水靶槍的溫度恒定為25時,溫度與時間的關(guān)系為

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    其中:S為實(shí)際導(dǎo)熱面積;λ為材料的平均導(dǎo)熱系數(shù);h為靶材厚度;K為靶材和靶槍兩界面間的傳熱系數(shù);m為靶材質(zhì)量;c為靶材比熱容;Q為濺射時整個腔體吸收的熱量。

    以銅靶材為例,在濺射過程中氬離子轟擊主要集中在刻蝕槽區(qū)域,靶材底部的實(shí)際導(dǎo)熱面積S約為4cm2,平均導(dǎo)熱系數(shù)λ約為400W/(m.K),厚度h為5mm,K約為1mW/(m2.K),m約為0.2kg,c約為0.4mJ/(kg·℃),腔體吸收的熱量Q與靶材表面的溫度存在比例關(guān)系(Q=200T)。代入以上數(shù)據(jù),銅靶材表面溫度與濺射工藝時間的關(guān)系為

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    將另外3種材料的平均導(dǎo)熱系數(shù)、靶材質(zhì)量、靶材比熱容等數(shù)據(jù)代入式(1)后,用Matlab軟件模擬出靶材表面溫度隨濺射工藝時間的變化,如圖2所示。

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    由圖2模擬結(jié)果可知,對于銅、鋁2種靶材,在濺射開始時靶材表面溫度迅速升高。隨著靶材表面和水冷靶槍溫差變大,熱量傳輸更加迅速。由于銅、鋁的導(dǎo)熱性能良好,在工藝開始的10min后,濺射產(chǎn)生和導(dǎo)走的熱量趨于平衡,銅靶和鋁靶表面溫度不再升高,分別約為75℃和94℃。兩者均沒有達(dá)到材料“濺射失重”的臨界溫度,所以在整個實(shí)驗(yàn)中沉積薄膜厚度和濺射工藝時間幾乎是呈線性變化的。

    對于氧化鋅和二氧化硅2種靶材,由于材料的導(dǎo)熱性能較差,加上材料溫度的升高,因此導(dǎo)熱性能隨之下降[13]。靶材表面的熱量向水冷靶槍傳輸比較困難,靶材表面溫度不斷升高。在約345℃和472℃時,氧化鋅和二氧化硅靶材表面溫度趨于穩(wěn)定。靶材表面溫度的升高造成材料鍵長增加和穩(wěn)定性變差。 當(dāng)溫度達(dá)到某一臨界值時,氬離子轟擊靶材表面,更多的原子克服材料間的鍵能而逸出靶面,因此出現(xiàn)了“ 濺射失重”現(xiàn)象。在相同的工藝條件下,氧化鋅靶材“濺射失重”現(xiàn)象比二氧化硅靶材出現(xiàn)較早,這可能 是由氧化鋅的鍵能約為270kJ/mol,而二氧化硅的鍵能約為799kJ/mol[14],氧化鋅靶材中氧和鋅鍵能較低的緣故造成的。

    4、結(jié)語

    在使用磁控濺射鍍膜設(shè)備沉積薄膜時,隨著濺射工藝時間的延長,銅、鋁靶材的濺射速率變化不大,而 氧化鋅、二氧化硅等靶材出現(xiàn)突然加速的“濺射失重”現(xiàn)象。由靶材表面溫度與濺射工藝時間的變化關(guān)系 可知,氧化鋅和二氧化硅導(dǎo)熱性能不良造成靶材表面溫度比銅、鋁靶材表面溫度高。靶材表面溫度超出“ 濺射失重”的臨界溫度,可能是氧化鋅和二氧化硅靶材濺射速率突然增加的原因。

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